OTSUKA大塚電子|塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司

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代理Otsuka大塚電子OPTM測厚儀

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代理Otsuka大塚電子FE-5000嵌入式膜厚儀

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代理Otsuka大塚電子橢圓偏振光測量儀FE-300

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代理日本Otsuka大塚電子Si晶圓測試儀SF-3

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代理 Otsuka大塚多通道光纖光譜儀MCPD-6800

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代理 Otsuka大塚多通道光纖光譜儀MCPD-9800

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江蘇地區代理Otsuka大塚VR測試儀RE-200

Otsuka大塚VR測試儀RE-200 偏光片RTH AR測試儀大塚電子RETS
代理AR測試儀Otsuka大塚RETS-100nx

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Otsuka大塚電子線掃描膜厚度計離線型

Otsuka大塚電子線掃描膜厚度計離線型該設備可離線輕松進行表面厚度不均勻性檢測，用于薄膜等的研發和質量控制的抽查。整個表面可以快速、高精度地測量。
Otsuka大塚電子在線膜厚測量厚度計

Otsuka大塚電子在線膜厚測量厚度計塔瑪薩崎電子代理銷售該裝置可以測量薄膜的整個寬度和總長度，用于在線薄膜生產現場。通過將新開發的高精度薄膜厚度計算技術與專有光譜干涉方法相結合，可以在每 0.01 秒的測量間隔內測量 500mm 寬度（使用一臺）的薄膜厚度。
代理大塚電子單元間隙檢查裝置 RETS series

江蘇代理Otsuka大塚單元間隙檢查裝置 RETS series 支持從反射型和透射型液晶封裝單元到帶濾色器的空單元的各種應用
Otsuka大塚電子 RETS延遲測量設備

Otsuka大塚電子 RETS延遲測量設備它是一種延遲測量設備，適用于所有薄膜，包括 OLED 偏振板、層壓緩速膜和帶 IPS 液晶緩速膜的偏振板。實現超高Re.60000nm的高速、高精度測量。薄膜的層壓狀態可以通過“無剝離、無損”進行測量。此外，它還配備了簡單的軟件和校正功能，通過重新放置樣品來糾正偏差，從而輕松實現高精度測量。
代理Otsuka大塚電子光纖光譜儀

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理Otsuka大塚電子光纖光譜儀MCPD-9800/MCPD-6800
江蘇代理大塚電子 OPTM-A1膜厚計

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理大塚電子 OPTM-A1膜厚計 OPTM（Optim）是一種利用顯微分光在微區域進行**反射率測量，可實現高精度薄膜厚度和光學常數分析的裝置。涂層膜的厚度和多層膜（如各種薄膜、晶圓和光學材料）可以無損或非接觸式測量。測量時間可以高速測量 1 秒/點。此外，它配備了一個軟件，即使是初學者可以很容易地分析光學常數。
OTSUKA大塚電子高靈敏度光譜輻射計HS-1000

塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理銷售OTSUKA大塚電子高靈敏度光譜輻射計HS-1000
塔瑪薩崎代理Otsuka大塚多通道光譜儀 MCPD-6800

塔瑪薩崎代理Otsuka大塚多通道光譜儀 MCPD-6800 MCPD-6800 是光譜測量和分析的基本系統。即時測量光譜，自由組裝測量光學系統和多種選項，可根據各種目的進行系統升級。測量波長范圍有四種類型可供選擇。

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